
可控硅阻断特性测试仪SCRD5KV
陕西天士立科技有限公司
专注半导体检测·电学检测·可靠性检测·老化实验
可控硅阻断特性测试仪SCRD5KV
产品简介
1. 该测试仪电路主要分为控制电路和高压电路两部分。测试仪接通电源后,由电子调压器调整高压变压器的输出,经整流及正反向转换后,产生频率为50HZ、底宽10mS的正弦半波电压施加到被测器件两端,同时电压经衰减后反馈到控制电路,经运放采样电路整定后输入单片机,由单片机抓取峰值并显示,漏电流由回路中的标准取样电阻取得,经运放采样电路后输入单片机,由液晶屏显示。
2. 被测元件达到电压或电流设定值,单片机输出低电平信号,电子调压器回零,切断主电路中的固态继电器,使其关断,高压及被测元件失电,从而起到保护元件的作用。
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可控硅阻断特性测试仪SCRD5KV
基础信息
1. 测试对象:晶闸管、双向晶闸管、整流二管、桥堆
2. 测试参数:VDRM、VRRM、IDRM、IRRMVRRM、IRRM
3. 测试标准:《反向阻断晶闸管测试方法》(JB/T7626-2013)
4. 操控方式:单片机程控,结果和曲线触摸屏显示,U盘可拷贝
5. 产品结构:台式单机,程控操作,电压及漏电自保护
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可控硅阻断特性测试仪SCRD5KV
性能指标
断态及反向重复峰值电压(VDRM、VRRM)
1. 调节范围:0~5.00kV连续可调
2. 控制精度范围:0.50~5.00kV
3. 分辨率0.01kV,精度±3%
断态及反向重复峰值漏电流(IDRM、IRRM)
1. 测试范围:0~100.0mA
2. 分辨率0.1mA,精度±3%±0.2mA
3. 电压波形:正弦半波
4. 测试频率:50Hz/5Hz
5. 测试数据显示方式:液晶屏
6. 测试方式:自动
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可控硅阻断特性测试仪SCRD5KV
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